Modeling, Diagnostics and Process Control

1. Introduction
Jan Maciej Kościelny

2. Introduction to the DiaSter System
Jan Maciej Kościelny, Michał Syfert, Paweł Wnuk

3. Process Modeling
Krzysztof Janiszowski, Józef Korbicz, Krzysztof Patan, Marcin Witczak

4. Knowledge Discovery in Databases
Wojciech Moczulski, Robert Szulim, Piotr Tomasik, Dominik Wachla

5. Diagnostic Methods
Wojciech Cholewa, Józef Korbicz, Jan Maciej Kościelny, Krzysztof Patan, Tomasz Rogala, Michał Syfert, Marcin Witczak

6. Supervisory Control and Optimization
Piotr Tatjewski, Leszek Trybus, Maciej Ławryńczuk, Piotr Marusak, Zbigniew Świder, Andrzej Stec

7. Application of the DiaSter System
Michał Syfert, Paweł Chrzanowski, Bartłomiej Fajdek, Maciej Ławryńczuk, Piotr Marusak, Krzysztof Patan, Tomasz Rogala, Andrzej Stec, Robert Szulim, Piotr Tomasik, Dominik Wachla, Marcin Witczak

Nyckelord: Engineering, Control, Systems Theory, Control