Freeman, Yuri
Tantalum and Niobium-Based Capacitors
Table of contents
1. Major Degradation Mechanisms
Yuri Freeman
2. Basic Technology
Yuri Freeman
3. Applications
Yuri Freeman
4. Conclusion
Yuri Freeman
Nyckelord: Engineering, Circuits and Systems, Electronic Circuits and Devices, Electronics and Microelectronics, Instrumentation
- Författare
- Freeman, Yuri
- Utgivare
- Springer
- Utgivningsår
- 2018
- Språk
- en
- Utgåva
- 1
- Sidantal
- 19 sidor
- Kategori
- Teknologi, energi, trafik
- Format
- E-bok
- eISBN (PDF)
- 9783319678702
- Tryckt ISBN
- 978-3-319-67869-6
