Logga in

Maricau, Elie

Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Maricau, Elie - Analog IC Reliability in Nanometer CMOS, e-bok

117,70€

E-bok, PDF, Adobe DRM-skydd
ISBN: 9781461461630
DRM-begränsningar

Skriva utInte tillåtet
Kopiera till urklippInte tillåtet

Table of contents

1. Introduction
Elie Maricau, Georges Gielen

2. CMOS Reliability Overview
Elie Maricau, Georges Gielen

3. Transistor Aging Compact Modeling
Elie Maricau, Georges Gielen

4. Background on IC Reliability Simulation
Elie Maricau, Georges Gielen

5. Analog IC Reliability Simulation
Elie Maricau, Georges Gielen

6. Integrated Circuit Reliability
Elie Maricau, Georges Gielen

7. Conclusions
Elie Maricau, Georges Gielen

Nyckelord: Engineering, Circuits and Systems, Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Nanotechnology and Microengineering

Författare
 
Utgivare
Springer
Utgivningsår
2013
Språk
en
Utgåva
2013
Serie
Analog Circuits and Signal Processing
Sidantal
16 sidor
Kategori
Teknologi, energi, trafik
Format
E-bok
eISBN (PDF)
9781461461630

Liknande e-böcker