Sisäänkirjautuminen

Krishnaswamy, Smita

Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

Krishnaswamy, Smita - Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty, e-kirja

117,70€

E-kirja, PDF, Adobe DRM-suojattu
ISBN: 9789048196449
DRM-rajoitukset

TulostusEi sallittu
Kopioi leikepöydälleEi sallittu

Table of contents

1. Introduction
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

2. Probabilistic Transfer Matrices
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

3. Computing with Probabilistic Transfer Matrices
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

4. Testing Logic Circuits for Probabilistic Faults
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

5. Signature-Based Reliability Analysis
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

6. Design for Robustness
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

7. Summary and Extensions
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

Avainsanat: Engineering, Circuits and Systems, Arithmetic and Logic Structures, Computer Hardware, Performance and Reliability, Logic Design, Symbolic and Algebraic Manipulation

Tekijä(t)
 
 
Julkaisija
Springer
Julkaisuvuosi
2013
Kieli
en
Painos
2013
Sarja
Lecture Notes in Electrical Engineering
Sivumäärä
11 sivua
Kategoria
Tekniikka, energia, liikenne
Tiedostomuoto
E-kirja
eISBN (PDF)
9789048196449

Samankaltaisia e-kirjoja