Breitenstein, Otwin
Lock-in Thermography
1. Introduction
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
2. Physical and Technical Basics
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
3. Experimental Technique
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
4. Theory
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
5. Measurement Strategies
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
6. Typical Applications
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
7. Summary and Outlook
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
Avainsanat: Physics, Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices, Characterization and Evaluation of Materials, Engineering, general, Structural Materials
- Tekijä(t)
- Breitenstein, Otwin
- Warta, Wilhelm
- Langenkamp, Martin
- Julkaisija
- Springer
- Julkaisuvuosi
- 2010
- Kieli
- en
- Painos
- 1
- Sarja
- Springer Series in Advanced Microelectronics
- Sivumäärä
- 10 sivua
- Kategoria
- Eksaktit luonnontieteet
- Tiedostomuoto
- E-kirja
- eISBN (PDF)
- 9783642024177