Rein, Stefan
Lifetime Spectroscopy
1. Introduction
2. Theory of carrier lifetime in silicon
3. Lifetime measurement techniques
4. Theory of lifetime spectroscopy
5. Defect characterization on intentionally metal-contaminated silicon samples
6. The metastable defect in boron-doped Czochralski silicon
7. Summary and further work
8. Zusammenfassung und Ausblick
DRM-restrictions
Printing: not available
Clipboard copying: not available
Avainsanat: SCIENCE / Physics SCI055000
- Tekijä(t)
- Rein, Stefan
- Julkaisija
- Springer
- Julkaisuvuosi
- 2005
- Kieli
- en
- Painos
- 1
- Kategoria
- Eksaktit luonnontieteet
- Tiedostomuoto
- E-kirja
- eISBN (PDF)
- 9783540279228