Maricau, Elie
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Table of contents
1. Introduction
Elie Maricau, Georges Gielen
2. CMOS Reliability Overview
Elie Maricau, Georges Gielen
3. Transistor Aging Compact Modeling
Elie Maricau, Georges Gielen
4. Background on IC Reliability Simulation
Elie Maricau, Georges Gielen
5. Analog IC Reliability Simulation
Elie Maricau, Georges Gielen
6. Integrated Circuit Reliability
Elie Maricau, Georges Gielen
7. Conclusions
Elie Maricau, Georges Gielen
Avainsanat: Engineering, Circuits and Systems, Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Nanotechnology and Microengineering
- Tekijä(t)
- Maricau, Elie
- Gielen, Georges
- Julkaisija
- Springer
- Julkaisuvuosi
- 2013
- Kieli
- en
- Painos
- 2013
- Sarja
- Analog Circuits and Signal Processing
- Sivumäärä
- 16 sivua
- Kategoria
- Tekniikka, energia, liikenne
- Tiedostomuoto
- E-kirja
- eISBN (PDF)
- 9781461461630
