Sisäänkirjautuminen

Vogt, Thomas

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Vogt, Thomas - Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy, e-kirja

117,70€

E-kirja, PDF, Adobe DRM-suojattu
ISBN: 9781461421917
DRM-rajoitukset

TulostusEi sallittu
Kopioi leikepöydälleEi sallittu

Table of contents

1. Kantianism at the Nano-scale
Michael Dickson

2. The Application of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) to the Study of Nanoscale Systems
N. D. Browning, J. P. Buban, M. Chi, B. Gipson, M. Herrera, D. J. Masiel, S. Mehraeen, D. G. Morgan, N. L. Okamoto, Q. M. Ramasse, B. W. Reed, H. Stahlberg

3. High Resolution ExitWave Restoration
Sarah J. Haigh, Angus I. Kirkland

4. Compressed Sensing and Electron Microscopy
Peter Binev, Wolfgang Dahmen, Ronald DeVore, Philipp Lamby, Daniel Savu, Robert Sharpley

5. High-Quality Image Formation by Nonlocal Means Applied to High-Angle Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy (HAADF–STEM)
Peter Binev, Francisco Blanco-Silva, Douglas Blom, Wolfgang Dahmen, Philipp Lamby, Robert Sharpley, Thomas Vogt

6. Center of Mass Operators for Cryo-EM—Theory and Implementation
Amit Singer, Yoel Shkolnisky

Avainsanat: Materials Science, Characterization and Evaluation of Materials, Analytical Chemistry, Nanotechnology, Theoretical and Computational Chemistry, Measurement Science and Instrumentation

Tekijä(t)
 
 
Julkaisija
Springer
Julkaisuvuosi
2012
Kieli
en
Painos
2012
Sarja
Nanostructure Science and Technology
Sivumäärä
9 sivua
Kategoria
Tekniikka, energia, liikenne
Tiedostomuoto
E-kirja
eISBN (PDF)
9781461421917

Samankaltaisia e-kirjoja