Sisäänkirjautuminen

Egerton, R.F.

Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

Egerton, R.F. - Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, e-kirja

236,75€

E-kirja, PDF, Adobe DRM-suojattu
ISBN: 9781441995834
DRM-rajoitukset

TulostusEi sallittu
Kopioi leikepöydälleEi sallittu

Table of contents

1. An Introduction to EELS
R.F. Egerton

2. Energy-Loss Instrumentation
R.F. Egerton

3. Physics of Electron Scattering
R.F. Egerton

4. Quantitative Analysis of Energy-Loss Data
R.F. Egerton

5. TEM Applications of EELS
R.F. Egerton

6. Bethe Theory for High Incident Energies and Anisotropic Materials
R.F. Egerton

7. Computer Programs
R.F. Egerton

8. Plasmon Energies and Inelastic Mean Free Paths
R.F. Egerton

9. Inner-Shell Energies and Edge Shapes
R.F. Egerton

10. Electron Wavelengths, Relativistic Factors, and Physical Constants
R.F. Egerton

11. Options for Energy-Loss Data Acquisition
R.F. Egerton

Avainsanat: Materials Science, Characterization and Evaluation of Materials, Solid State Physics, Spectroscopy and Microscopy, Spectroscopy/Spectrometry, Nanotechnology

Tekijä(t)
Julkaisija
Springer
Julkaisuvuosi
2011
Kieli
en
Painos
1
Sivumäärä
12 sivua
Kategoria
Tekniikka, energia, liikenne
Tiedostomuoto
E-kirja
eISBN (PDF)
9781441995834

Samankaltaisia e-kirjoja