Sisäänkirjautuminen

Walkosz, Weronika

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Walkosz, Weronika - Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces, e-kirja

117,70€

E-kirja, PDF, Adobe DRM-suojattu
ISBN: 9781441978172
DRM-rajoitukset

TulostusEi sallittu
Kopioi leikepöydälleEi sallittu

Table of contents

1. Silicon Nitride Ceramics
Weronika Walkosz

2. Theoretical Methods and Approximations
Weronika Walkosz

3. Overview of Experimental Tools
Weronika Walkosz

4. Structural Energetics of ?- {bf{{Si}_3{N}_4(10overline{1}0)}} Surfaces
Weronik Walkosz

5. Atomic-Resolution Study of the Interfacial Bonding at Si3N4/CeO2?? Grain Boundaries
Weronika Walkosz

6. Atomic-Resolution Study of ?-Si3N4/SiO2 Interfaces
Weronika Walkosz

7. Imaging Bulk ?-Si3N4

Weronika Walkosz

8. Conclusions and Future Work
Weronika Walkosz

Avainsanat: Materials Science, Ceramics, Glass, Composites, Natural Methods, Spectroscopy and Microscopy, Physical Chemistry, Structural Materials, Atomic/Molecular Structure and Spectra, Microengineering

Tekijä(t)
Julkaisija
Springer
Julkaisuvuosi
2011
Kieli
en
Painos
1
Sarja
Springer Theses
Sivumäärä
13 sivua
Kategoria
Tekniikka, energia, liikenne
Tiedostomuoto
E-kirja
eISBN (PDF)
9781441978172

Samankaltaisia e-kirjoja