Sisäänkirjautuminen

Nelson, Wayne B.

Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis

Nelson, Wayne B. - Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis, e-kirja

195,35€

E-kirja, PDF, Adobe DRM-suojattu
ISBN: 9780470317471
DRM-rajoitukset

Tulostus30 sivua ja lisä sivu kertyy joka päivä, ylärajana 30 sivua
Kopioi leikepöydälle5 poimintoa

This practical resource presents modern, statistical methods for accelerated testing including test models, analyses of data, and plans for testing. Each topic is self-contained for easy reference. Coverage is broad and detailed enough to serve as a text or reference. This handy book features real test examples along with data analyses, computer programs, and references to the literature.

Tekijä(t)
Julkaisija
John Wiley and Sons, Inc.
Julkaisuvuosi
2009
Kieli
en
Painos
1
Sarja
Wiley Series in Probability and Statistics
Kategoria
Eksaktit luonnontieteet
Tiedostomuoto
E-kirja
eISBN (PDF)
9780470317471
Painetun ISBN
9780471522775

Samankaltaisia e-kirjoja