Sisäänkirjautuminen

Croon, Jeroen A.

Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors

Croon, Jeroen A. - Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors, e-kirja

134,15€

E-kirja, PDF, Adobe DRM-suojattu
ISBN: 9780387243139
DRM-rajoitukset

TulostusEi sallittu
Kopioi leikepöydälleEi sallittu

Table of contents

1. Introduction
2. Measurement and Modeling of Mismatch in the Drain Current
3. Parameter Extraction
4. Physical Origins of Mosfet Mismatch
5. Technological Aspects
6. Impact of Line-Edge Roughness on Parameter Fluctuations, Off-State Current and Yield
7. Conclusions, Future Work and Outlook

DRM-restrictions

Printing: not available
Clipboard copying: not available

Avainsanat: TECHNOLOGY & ENGINEERING / General TEC000000

Tekijä(t)
 
 
Julkaisija
Springer
Julkaisuvuosi
2005
Kieli
en
Painos
1
Kategoria
Tekniikka, energia, liikenne
Tiedostomuoto
E-kirja
eISBN (PDF)
9780387243139

Samankaltaisia e-kirjoja