Sisäänkirjautuminen

Kratzer, Meredith C.

Charged Semiconductor Defects

Kratzer, Meredith C. - Charged Semiconductor Defects, e-kirja

115,45€

E-kirja, PDF, Adobe DRM-suojattu
ISBN: 9781848820593
DRM-rajoitukset

TulostusEi sallittu
Kopioi leikepöydälleEi sallittu

Table of contents

1. Introduction

2. Fundamentals of Defect Ionization and Transport

3. Experimental and Computational Characterization

4. Trends in Charged Defect Behavior

5. Intrinsic Defects: Structure

6. Intrinsic Defects: Ionization Thermodynamics

7. Intrinsic Defects: Diffusion

8. Extrinsic Defects

Avainsanat: SCIENCE / Physics SCI055000

Tekijä(t)
 
Julkaisija
Springer
Julkaisuvuosi
2009
Kieli
en
Painos
1
Kategoria
Eksaktit luonnontieteet
Tiedostomuoto
E-kirja
eISBN (PDF)
9781848820593

Samankaltaisia e-kirjoja